新的硬盘写头分析技术可以增加硬盘容量
东北大学，东芝和 JASRI 使用 SPring-8 的 BL25SU 光束线上安装的扫描软X射线磁性圆二色谱显微镜开发了一种用于 HDD 写入头的新分析技术。 这项新技术通过同步定时控制实现了时间分辨的测量，其中写入头以从 SPring-8 存储环产生的周期性X射线脉冲的十分之一周期的间隔进行操作。同时，聚焦的X射线扫描写头的面向介质的表面，并且磁性圆二色性对磁化的时间变化进行成像。这样可以实现 50 皮秒的时间分辨率和 100 纳米的空间分辨率，从而可以分析精细结构并实现快速写头操作。通过改进 X射线的聚焦光学系统，该方法有可能获得更高的分辨率。
开发团队使用新技术来获得写头反转期间磁化图像的时间演变。成像显示主极的磁化反转在一纳秒内完成，并且响应于主极反转，来自磁化的空间模式出现在屏蔽区域中。以前没有关于写头操作的研究达到如此高的空间和时间分辨率，并且有望使用这种方法来支持对写头操作的高精度分析，从而为下一代写头的发展和进一步改进做出了贡献在硬盘性能方面。
